2017
- 1. Материалы микроэлектроники: тонкие пленки для интегрированных устройств (тип: электронная)
- 2. Анализ структуры материала методами просвечивающей электронной микроскопии. Методические указания к выполнению лабораторной работы (тип: электронная)
- 3. Анализ дефектов кристаллического строения металлов. Методические указания к семинарам (тип: электронная)
- 4. Кристаллографический анализ структуры металлов. Методические указания к семинарам (тип: электронная)