Mechanical Stress on the Nanoscale. Simulation, Material Systems and Characterization Techniques

Язык: Английский
Тип: Текст
Опубликовано здесь:
Файл подготовлен:

Bringing together experts from the various disciplines involved, this first comprehensive overview of the current level of stress engineering on the nanoscale is unique in combining the theoretical fundamentals with simulation methods, model systems and characterization techniques. Essential reading for researchers in microelectronics, optoelectronics, sensing, and photonics.

Полная версия:

Отрывок

Спасибо за оценку! Будем признательны, если Вы оставите комментарий о данном произведении.

Оставить отзыв

ВходРегистрация
Забыли пароль