ГлавнаяБорис Кольцов

Борис Кольцов

Книги

Без серии

Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть 1. Сканирующая зондовая микроскопия (тип: электронная)

Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии (тип: электронная)